涂层CT扫描测试——清析客户检测案例

类别：客户案例 706 2022-07-26

2022年06月27日，来自高校的陈同学咨询X射线计算机断层扫描（XCT），情况如下：

客户背景

客户样品为涂层材料，已经拍摄过断面SEM和TEM，在文献中查阅到可以通过XCT断层扫描方法查看基底上特层的孔隙裂纹等情况，进行前期确认咨询。

样品名称

非晶Al2O3-YAG涂层；

客户需求

想要通过XCT断层扫描，得知涂层深度方向，微结构（孔隙，裂纹，晶粒尺寸等）和相结构（纳米晶析出量及分布特征）的变化，从而对结构调控和服役行为进行深入研究。

解决方案

由于CT扫描微小区域存在一定限制，前期沟通基底和涂层情况包含金属基底厚度、涂层成分、涂层喷涂工艺以及厚度，确认符合要求后下单寄样测试，实验室收到样品后安排仪器进行扫描测试。得到如下原始数据：

客户收到原始数据后较为满意，但是原始数据表征的是整个样品，与预期有差距；在与客户沟通协商后对数据进行处理，挑选完整样品中的涂层数据，仅对于涂层分析其孔隙和分布情况，处理数据如下：

客户反馈

通过测试并分析后得到结果，客户对数据满意，反馈处理后数据更加直观，完全能够达到效果。

本次测试使用仪器为：德国Yxlon EVO工业机

高分辨率Yxlon X射线成像技术广泛应用于电子元件的故障分析和生产质量检测中，可根据特定需求来开发特定的软件算法，来实现全自动缺陷识别检测功能。通过使用切片技术，对大面积区域的无损检测成为可能并帮助节省大量的成本，无需再对检测样本造成损坏即可实现；升级CT功能，使系统能够对检测样本轻松完成深度的三维CT扫描检测。

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