薄膜电阻测试机构_检测中心

类别：化工检测 248 2024-04-29

薄膜电阻测试是一种测试电路板导电性的方法，它广泛应用于电子工业中。通过这种测试方法，我们可以检测出电路板上的导线是否连接正确，是否有短路等问题。清析技术研究院可提供薄膜电阻测试服务，可出具备CMA/CNAS资质的检测报告，是专业的第三方薄膜电阻化工检测机构。详情可联系我们进行咨询，关于薄膜电阻测试的部分内容介绍如下：

薄膜电阻测试周期是多久？

到样后7-10个工作日可出具检测报告（可加急），根据样品及其检测项目/方法会有所变动，具体需咨询工程师。

薄膜电阻测试范围有哪些？

热塑性软质薄膜袋、长寿命薄膜、超耐磨聚丙烯转移薄膜、双精调线高温薄膜铂电阻、高强度薄膜、流延复合薄膜、易撕包装袋薄膜、金属薄膜、塑料薄膜、PVDF薄膜、电气绝缘用薄膜、镀膜材料、复合氧化物薄膜、高强度耐高温BOPP薄膜、高透光率隔热聚酰亚胺薄膜、耐高温蒸煮包装袋薄膜、防霉抗菌包装袋薄膜、PTFE薄膜、钙钛矿薄膜、高分子薄膜、聚酰胺薄膜、可降解薄膜、镍铁合金薄膜、包装薄膜、光学功能薄膜、TPU薄膜、纳米银线透明导电薄膜、双向拉伸聚酰胺(尼龙)薄膜等。

薄膜电阻测试流程是怎样？

1、联系/咨询工程师，详细沟通了解检测需求；

2、工程师根据检测项目及检测需求进行报价；

3、双方确定签订合同及保密协议；

4、寄样/取样，开始检测；

5、完成检测，出具检测报告，进行后期服务；

薄膜电阻测试方法有哪些？

四探针法是基于惠斯通电桥原理的一种测试方法。在实验中，四个探针按照一定的间距排列，其中两个探针作为电流源，另外两个探针作为电压表。当电流源向薄膜材料施加电流时，会产生电压降，从而在电桥中产生电压。通过测量电桥中的电压，可以计算出薄膜材料的电阻值。其实验步骤如下：

1. 准备实验器材：四探针测试仪、薄膜样品、电极夹具、稳压电源、电学测量仪表等。

2. 将薄膜样品放置在电极夹具中，确保样品表面平整无瑕疵。

3. 将四探针测试仪连接到稳压电源和电学测量仪表上。

4. 将四探针探头与薄膜样品接触，调整探针间距，使其与样品尺寸相适应。

5. 打开稳压电源，向薄膜样品施加电流，观察电学测量仪表的读数。

6. 记录实验数据，包括电流值、电压值和探针间距等。

7. 根据实验数据计算薄膜材料的电阻值。

薄膜电阻测试标准是什么？

1、GB/T 6616-2009 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法非接触涡流法

2、KS L 1619-2013(2018 四探针阵列导电陶瓷薄膜电阻率测试方法

3、GB/T 6616-2023 半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试非接触涡流法

4、GB/T 22586-2008 高温超导薄膜微波表面电阻测试

5、BS IEC 62951-6:2019 半导体器件柔性和可拉伸半导体器件柔性导电薄膜方块电阻的测试方法

6、ASTM D3633-98 薄膜铺面系统电阻率的测试方法

7、ASTM F374-00 用单型程序直列式四点探针法测定硅外延层、扩散层、多晶硅层和离子注入层的薄膜电阻的测试方法

8、DB32/T 4378-2022 衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜方块电阻的无损测试四探针法

9、KS I 3210-2016(2021 薄膜过滤水电阻率恢复特性的测试方法

10、KS L 1620-2013(2018 用于测量导电陶瓷薄膜用范德堡法的电阻率的测试方法

11、KS L 1619-2013(2023 用四点探针阵列测试导电陶瓷薄膜电阻率的方法

12、EIA_ECA-887-A-2007 薄膜电阻网络规范

13、ASTM F390-11 用共线四探针法测定金属薄膜的薄膜电阻的标准试验方法

14、GB/T 6616-1995 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定非接触涡流法

清析研究院服务范围和优势有哪些？

1、为公司企业、高等院校、科研单位、事业单位、医院、律师事务所以及个人客户等提供专业技术服务。

2、具备专业的CMA/CNAS资质认证，检测资质齐全，为客户提供专业的咨询与服务。

3、实验室仪器设备种类齐全，保证测试数据准确可靠；

4、拥有强大的检测专家团队，全国各地多家分支机构；

5、在线一对一服务流程，根据客户需求制定特色检测方案和解决办法；

如有相关检测需求欢迎通过在线咨询，微信咨询，拨打热线，预约检测留言等方式进行咨询，实验室工程师将会一对一为您详细解答。

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